ES
Detector de pins Si XR-100CR
El XR-100CR es un detector gamma con un sistema de refrigeración basado en el efecto Peltier. Este detector se utiliza habitualmente en condiciones de laboratorio que requieren una resolución de energía media y tasas de conteo bajas. El detector es adecuado para el análisis de fluorescencia de rayos X, la identificación de marcas de aleaciones metálicas y la detección de plomo en la pintura.
La temperatura máxima de enfriamiento es de -55 ºС y está controlada por un sensor de temperatura incorporado.
Composición y propiedades
- Fotodiodo Si-PIN
- Enfriador termoeléctrico de 2 etapas
- Sensor de temperatura
- Ventana de berilio
- Colimador multicanal
- Carcasa sellada
Solicitud
- Análisis XRF
- Detección de sustancias peligrosas/eliminación de residuos
- Analizadores de gases portátiles
- Como componente en la producción de sistemas electrónicos
- Medicina nuclear
- Educación e investigación
- Arte y Arqueología
- Control de procesos tecnológicos
- Espectroscopia de Mössbauer
- Exploración espacial
- Monitoreo ambiental
- Monitoreo del estado de las centrales nucleares
- Control de emisiones nocivas
Fig. 1. Espectro de 55 Fe obtenido en un detector de 6 mm2 / 500 mm.
La resolución para el pico de 55Fe de 5,9 keV es 145 eV (FWHM) y 230 eV (FWHM) según el tipo de detector y la elección de las constantes de tiempo.
Opciones
- Espesor variable de la ventana de berilio (0,3 mm - 7,5 µm).
- Un conjunto de colimadores para grandes caudales.
- Ejecución al vacío
Especificaciones del XR-100CR
General:
 |
 |
| Fig. 2a. Configuración del X-123, que incluye detector, preamplificador, procesador y fuente de alimentación en una única carcasa. | Fig. 2b. El detector y el preamplificador ensamblados están disponibles como componentes para sistemas electrónicos. |
Fig. 3. Modificaciones del detector XR100CR
Procesador de pulsos digitales y fuente de alimentación para XR-100CR
El sistema XR-100CR/PX5 garantiza un funcionamiento estable en menos de un minuto después de aplicar energía.
Fig. 4. Diagrama de bloques
Fig. 5. Resolución versus tiempo de formación de picos para detectores Si-PIN y SDD
Fig. 6. Resolución en función de la tasa de conteo para diferentes tiempos de formación de picos
Curvas de eficiencia
Fig. 7. Eficiencia de detección de partículas para el detector XR-100CR.
Debido a su diseño único y confiabilidad, este detector fue elegido para la misión de búsqueda para analizar rocas marcianas.
¡El primer espectro de una piedra de Marte!
Fig. 8. El primer espectro de Marte
Sistema XRF basado en XR-100CR y tubo de rayos X Mini-X
Arroz. 9. Sistema XRF
Fig. 10. XR100CR y Mini-X en la placa de circuito XRF MP1
