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Detector de pins Si XR-100CR

El XR-100CR es un detector gamma con un sistema de refrigeración basado en el efecto Peltier. Este detector se utiliza habitualmente en condiciones de laboratorio que requieren una resolución de energía media y tasas de conteo bajas. El detector es adecuado para el análisis de fluorescencia de rayos X, la identificación de marcas de aleaciones metálicas y la detección de plomo en la pintura. 

La temperatura máxima de enfriamiento es de -55 ºС y está controlada por un sensor de temperatura incorporado.

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Composición y propiedades

    • Fotodiodo Si-PIN
    • Enfriador termoeléctrico de 2 etapas
    • Sensor de temperatura
    • Ventana de berilio
    • Colimador multicanal
    • Carcasa sellada

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Solicitud

    • Análisis XRF
    • Detección de sustancias peligrosas/eliminación de residuos
    • Analizadores de gases portátiles
    • Como componente en la producción de sistemas electrónicos
    • Medicina nuclear
    • Educación e investigación
    • Arte y Arqueología
    • Control de procesos tecnológicos
    • Espectroscopia de Mössbauer
    • Exploración espacial
    • Monitoreo ambiental
    • Monitoreo del estado de las centrales nucleares
    • Control de emisiones nocivas

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Fig. 1. Espectro de 55 Fe obtenido en un detector de 6 mm2 / 500 mm.

La resolución para el pico de 55Fe de 5,9 keV es 145 eV (FWHM) y 230 eV (FWHM) según el tipo de detector y la elección de las constantes de tiempo.

Opciones

    • Espesor variable de la ventana de berilio (0,3 mm - 7,5 µm).
    • Un conjunto de colimadores para grandes caudales.
    • Ejecución al vacío

Especificaciones del XR-100CR

General:

Tipo de detector

Si-PIN

Tamaño del detector (área sensible del detector)

6 mm2 ( colimados a 4,4 mm2 ) 13
mm2 ( colimados a 11,1 mm2 ) 25
mm2 ( colimados a 21,5 mm2 )

Espesor del silicio

500 µm (ver curvas de eficiencia)

Colimador

Multicapa

Resolución energética a 5,9 keV ( 55 Fe)

145 eV (FWHM) y 230 eV (FWHM) según el tipo de detector y la elección de las constantes de tiempo.

Fondo

<5 x 10 -3 /s, 2 keV a 150 keV para detector de 6 mm 2 /500 µm

Espesor de la ventana de berilio

1 mil (25 µm) o 0,5 mil (12,5 µm), consulte las curvas de transmisión

Preamplificador sensible a la carga

Producción original de Amptek con reinicio de alto voltaje.

Ganar estabilidad

<20 ppm/°C (típico)

Dimensiones

7,6 x 4,4 x 2,9 cm (ver dimensiones generales)

Peso

139 gramos

Consumo total

<1 W

Período de garantía

1 año

Vida útil

5-10 años, depende de la intensidad de uso

Condiciones de trabajo

0°C - +40°C

Almacenamiento y transporte

Almacenamiento a largo plazo: más de 10 años en un lugar seco.

Condiciones estándar: -20°C a +50°C, 10 - 90% de humedad

Certificado de certificación TUV
n.°: CU 72072412 01
Probado: UL 61010-1: 2004 R7 .05
CAN/CSA-C22.2 61010-1: 2004

Parámetros de entrada

Nutrición

Fuente de alimentación para el detector XR-100CR

9 B

Fuente de alimentación del preamplificador

±8 a 9 V a 15 mA con no más de 50 mV de ruido pico a pico

Fuente de alimentación para el cristal detector XR-100CR

+180 V (la fuente de alimentación debe poder producir entre +100 y 200 V a 1 µA) muy estable, variación <0,1 %

Fuente de alimentación más fría

Corriente máxima de 350 mA, voltaje máximo de 4 V con <100 mV de ruido pico a pico
*XR-100CR incluye su propio sensor de temperatura

Parámetros de salida

Señal de salida

La salida del XR100CR oscila entre +5 V y -5 V.
El período de reinicio variará según el tipo de detector y la tasa de conteo.

Sensibilidad del preamplificador

1 mV/keV (puede variar para diferentes detectores)

Polaridad del preamplificador

Salida de señal negativa (carga máxima de 1 kOhm)

Respuesta del preamplificador

Reinicio por capacidad del detector

Sensibilidad del sensor de temperatura (diodo)

770 mV = -50 °C

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Fig. 2a. Configuración del X-123, que incluye detector, preamplificador, procesador y fuente de alimentación en una única carcasa. Fig. 2b. El detector y el preamplificador ensamblados están disponibles como componentes para sistemas electrónicos.

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Fig. 3. Modificaciones del detector XR100CR

Procesador de pulsos digitales y fuente de alimentación para XR-100CR

El sistema XR-100CR/PX5 garantiza un funcionamiento estable en menos de un minuto después de aplicar energía.

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Fig. 4. Diagrama de bloques

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Fig. 5. Resolución versus tiempo de formación de picos para detectores Si-PIN y SDD

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Fig. 6. Resolución en función de la tasa de conteo para diferentes tiempos de formación de picos

Curvas de eficiencia

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Fig. 7. Eficiencia de detección de partículas para el detector XR-100CR. 

Debido a su diseño único y confiabilidad, este detector fue elegido para la misión de búsqueda para analizar rocas marcianas.

¡El primer espectro de una piedra de Marte!

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Fig. 8. El primer espectro de Marte

Sistema XRF basado en XR-100CR y tubo de rayos X Mini-X

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Arroz. 9. Sistema XRF

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Fig. 10. XR100CR y Mini-X en la placa de circuito XRF MP1

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