Paquete de software XRF-FP para análisis XRD

05 de octubre de 2017

Un paquete completo para el análisis cuantitativo de XRD elemental.

Este paquete es un paquete de software para el análisis cuantitativo de difracción de rayos X (XRD). El análisis de rayos X de parámetros fundamentales (FP) convierte la intensidad de pico en la concentración del elemento o espesor de película correspondiente. Procesa los espectros de rayos X originales medidos con detectores y procesadores de pulsos Amptek para producir (1) la intensidad de pico elemental (la intensidad de picos correspondientes a cada elemento) y (2) la concentración elemental o espesor de película.

CaracterísticasUtilizando el método de parámetros fundamentalesAnálisis con y sin materiales de referenciaAnálisis de líquidos y películas delgadasAnálisis de hasta 40 elementos simultáneamenteCompatible con todos los detectores Amptek (Si-PIN, SDD, CdTe), tubos de rayos X y electrónicaModo automático para análisis continuo o periódicoAjuste del pico de salida de CdTeEnsayos no destructivos

AplicacionesAnálisis de fluorescencia de rayos XAnálisis de película delgadaAnálisis RoHS / WEEEFormación e investigaciónArte y ArqueologíaGestión de procesos tecnológicosTubo de rayos X

XR100CR y mini-X para análisis XRD.

Introducción y principio de funcionamiento

Este paquete es un paquete de software para el análisis cuantitativo de difracción de rayos X (XRD). El análisis de rayos X de parámetros fundamentales (FP) convierte la intensidad de un pico en una concentración de elementos o espesor de película. Procesa los espectros de rayos X originales medidos con detectores y procesadores de pulsos Amptek para producir (1) la intensidad del pico elemental (la intensidad de los picos correspondientes a cada elemento) y (2) la concentración de elementos o espesor de película.

Figura 2. El esquema ilustra el flujo de datos al analizador XRD.

Una vez instalado el sistema, calibrado y obtenido el espectro, comienza el análisis de rayos X:

• Descodificación de la respuesta del detector para restaurar la apariencia de los fotópicos. Este paso se utiliza para picos de salida, picos totales, picos de fondo, etc. En la salida de este paso, aparece el espectro procesado. Solo muestra con precisión los fotópicos.
• Descodificación de fotópicos para determinar la intensidad de la interacción de la radiación de rayos X en el detector. El resultado de este paso es una tabla de intensidad en cada fotópico analizado.
• Recuento de atenuación y efectos de matriz para determinar las concentraciones de elementos en la muestra. El resultado de este paso es una tabla de concentración, que es el resultado final del análisis.

El procesamiento del espectro corrige el espectro para picos de salida, picos totales, picos de fondo, Compton, retrodispersión y otros efectos. También corrige la atenuación en la ventana de berilio y las capas del detector no sensibles, así como la eficiencia del detector. Los picos se aproximan utilizando modelos teóricos o midiendo la respuesta del detector y se pueden realizar utilizando escaneo espectral tanto lineal como no lineal. La variedad de opciones de procesamiento le permite adaptar el software a un detector/espectrómetro específico y a una aplicación específica.

El análisis cuantitativo, un paso en el que se calcula un elemento de concentración o espesor de película a partir de la intensidad del pico correspondiente, se puede realizar con o sin el uso de muestras de referencia para calibrar los parámetros analíticos. En el análisis sin muestras de referencia, todos los parámetros se establecen en función de ecuaciones teóricas, una base de datos de parámetros fundamentales y un modelado preciso de la geometría de medición. La medición sin muestras de referencia es posible para estructuras simples o muestras de película delgada de una sola capa cuando no se conoce el espesor de la película. Al analizar utilizando muestras estándar, los parámetros principales se obtienen en función de la respuesta medida para cada elemento. Los resultados de análisis más precisos se obtienen cuando se utilizan estándares que aplican similitud de materiales en la medición. La medición del «coeficiente de dispersión» se puede utilizar para estimar la proporción de una muestra que consiste en materiales de bajo Z que no se pueden medir mediante análisis de difracción de rayos X.

El software incluye una gran cantidad de variables que el usuario puede ajustar de acuerdo con las condiciones experimentales y para optimizar el procesamiento.

Fig. 3. Ventana principal del programa. Muestra un elemento de tabla con diferentes parámetros y concentraciones.

Tabla 1. Resultados obtenidos con el paquete de software para el análisis de difracción de rayos X para dos aleaciones de acero. Los datos se obtuvieron utilizando un detector Amptek XR100-SDD, un procesador de pulsos PX5, un detector Amptek mini-X con un tubo de rayos X y una placa de montaje Amptek MP1.

Características del paquete de software

• Se pueden analizar hasta 40 elementos simultáneamente. Se puede realizar el análisis para todos los elementos desde H hasta Fm, utilizando el análisis de líneas K, L y M, en el rango de energía de 0,1 keV a 60 keV.
• Admite la medición de la composición total, la composición y el espesor de una sola capa o una composición de hasta 4 capas.
• Incluye corrección completa de las pérdidas de atenuación del aire, ventana del detector, capas muertas del detector, volumen activo del detector y filtro que se inserta entre el tubo y la muestra o entre la muestra y el detector. Se calculan en función de la entrada del usuario de parámetros que definen la fuente de excitación, el detector y la geometría de medición.
• Los parámetros de procesamiento del espectro incluyen parámetros para determinar el fondo, los picos en capas y los picos totales.
• Incluye correcciones de absorción para películas de fluorescencia secundaria tanto de capa gruesa como de capa fina, es decir, todos los efectos de matriz, amplificación y absorción. Se consideran todas las líneas posibles, tanto para la excitación como para la fluorescencia.
• La intensidad del fotopico se puede modelar como una función gaussiana, integrando el área bajo el pico o utilizando la respuesta del fotopico medida.
• Implementación lineal o no lineal. En un escaneo no lineal, el centro de gravedad y la resolución máxima se seleccionan en función de la forma óptima.
• El análisis cuantitativo se puede implementar utilizando parámetros fundamentales, parámetros fundamentales con un coeficiente de dispersión (para muestras que contienen una gran cantidad de materiales con Z pequeño) o un método simple de mínimos cuadrados.
• El análisis que utiliza parámetros fundamentales puede basarse en el uso de una fuente estándar, varias muestras estándar o sin ellas. El análisis sin materiales de referencia requiere una definición clara del tubo de rayos X, el detector, el entorno y los parámetros geométricos de medición.
• Los cálculos de los parámetros básicos se basan en la ecuación de Sherman.
• Los espectros de tubos pueden ser suministrados por el usuario o calculados a partir de modelos incorporados (Ebel, Pella et al.). Estos espectros de tubos pueden ser fusionados con funciones de transferencia experimentales para obtener el espectro esperado de tubos que pasan a través de una fibra óptica, como un haz policapilar.
• Permite el «modo experto» y el «modo normal» interactivos. En el modo experto, el usuario puede ver cada paso de la realización del análisis y la configuración de los parámetros. En el modo normal, una vez configurado y calibrado el espectrómetro, solo es necesario pulsar un único botón para recibir datos, procesar el espectro, analizar la intensidad y guardar los resultados en un informe.

Definición de muestra

Elementos / Componentes

Se pueden analizar hasta 40 elementos como elementos individuales y/o compuestos. Los elementos no analizados se pueden determinar estequiométricamente en función de su relación con el elemento analizado (por ejemplo, óxidos y carbonatos). Los elementos se pueden analizar en uno o más compuestos dentro de un único análisis. Un único compuesto (o elemento) se puede analizar de diferentes formas. Se puede «comprometer» cualquier número de conexiones (o elementos). Por ejemplo, se pueden analizar de esta forma soluciones, aglutinantes y/o cristales hidratados.

Análisis general y análisis de materiales de película delgada.

Se puede analizar cualquier volumen y muestra de película delgada monocapa (sin soporte) utilizando tanto muestras estándar como el método de parámetros fundamentales. Hay disponible un software adicional para el procesamiento simultáneo de muestras multicapa (hasta 6 capas) y materiales de película delgada utilizando el método de parámetros fundamentales (para obtener información más detallada, comuníquese con los especialistas de Technoanalitpribor).

Análisis cuantitativo

Método de análisis

El módulo incluye análisis de variación. En primer lugar, puede elegir el método de parámetros fundamentales para el análisis cuantitativo. Este módulo resuelve un conjunto de ecuaciones no lineales que relacionan la intensidad del pico de rayos X y la concentración de elementos en la muestra. Estas ecuaciones incluyen correcciones por atenuación y absorción en la muestra, aparición de rayos X secundarios en la muestra, atenuación en ventanas y aire, cambios en los espectros de dispersión, etc. En segundo lugar, puede elegir un OP con una dispersión de indicadores. Esta característica se recomienda cuando la muestra contiene una cantidad significativa de materiales de bajo Z, como plástico. La evaluación se realiza para la parte no analizada de la muestra comparando los elementos conocidos del analito con la relación C/R medida y asignando a los elementos restantes un número atómico promedio. En tercer lugar, puede elegir un método simple de mínimos cuadrados. Este es un método empírico que no utiliza toda la información sobre el espectro. En cambio, se basa en coeficientes de calibración simples y asume que la intensidad de una línea particular depende linealmente de la concentración.

Cuando se utiliza más de una excitación, se debe calibrar al menos uno de los elementos para cada condición. La calibración se puede realizar utilizando cualquier muestra estándar (por ejemplo, un elemento puro). Se pueden utilizar una o más muestras estándar para la calibración. Si algunos elementos están calibrados y otros no, entonces los coeficientes de calibración obtenidos del primer grupo se pueden utilizar para el segundo.

El espesor de la muestra se puede determinar o calcular. En el caso del cálculo, el análisis no se puede realizar sin una muestra estándar. Son posibles múltiples caminos para medir el espesor y la densidad. La densidad se puede calcular teóricamente o determinar en el caso de cálculos de espesor lineal. La composición de las muestras puede ser de hasta millonésimas de porcentaje.

Método de calibración

Mediante el método de parámetros fundamentales, la calibración se puede realizar sin muestras de referencia. Todos los parámetros que describen los espectros del tubo de rayos X, la filtración, la atenuación en el aire, la atenuación en la ventana de berilio y las capas muertas del detector, la atenuación y la amplificación en la muestra, etc. se calculan sobre la base de modelos físicos construidos a partir de los datos introducidos por el usuario en el programa. Es más fácil utilizar el análisis con muestras estándar, pero sus parámetros son aproximados. Esto se debe a las aproximaciones inherentes al modelo físico y a los datos introducidos por el usuario.

Con el método de parámetros fundamentales, también puede elegir si desea calibrar sus parámetros utilizando una o más muestras estándar. La calibración es muy recomendable y dará como resultado resultados mucho más precisos. Se puede utilizar una única muestra de referencia normal, es decir, se puede utilizar una única pieza de material que contenga todos los elementos que se analizarán posteriormente. Por ejemplo, se puede utilizar el acero inoxidable como «material de referencia estándar» y, a continuación, se observará un análisis muy preciso de otros aceros aleados. Puede realizar la calibración utilizando diferentes muestras de referencia para cada elemento.

Hay varios tipos de análisis que no se pueden realizar sin muestras de referencia, es decir, se requiere una calibración de la muestra estándar. Por ejemplo, el análisis de mínimos cuadrados no puede tener una muestra estándar. Si se calcula la densidad de la muestra (es decir, mg/cm2), el análisis no se puede realizar sin una muestra estándar.

Fuentes de excitación

Se pueden utilizar tubos de rayos X o fuentes de isótopos. Para los tubos de rayos X, este paquete de software puede simular tanto la reflexión como la transmisión de rayos X utilizando el modelo Pell o Ebel, o utilizando la fuente de espectro suministrada para simular completamente una fuente policromática. Se pueden definir el ánodo, las ventanas y los filtros. La ventana del tubo puede ser de cualquier composición (por ejemplo, BeO o vidrio). Se puede seleccionar cualquier elemento para el ánodo, así como el ángulo de salida. La energía puede variar de 3 a 60 kV. Se proporciona software que incluye eficiencia de transferencia de archivos, por ejemplo, se colocan ópticas policapilares entre la fuente y la muestra. Se pueden utilizar isótopos radiactivos utilizando un archivo fuente que describe la relación relativa de la línea. Para la excitación secundaria del objetivo, se supone una excitación monocromática.

Amptek suministra todos los parámetros para su kit de filtro y tubo de rayos X mini-X. Si se utiliza un tubo de otro proveedor, el cliente debe encontrar sus parámetros por su cuenta.

Los isótopos radiactivos se pueden utilizar mediante un archivo fuente que describa la relación relativa de la línea. Para la excitación secundaria del objetivo, se supone que la excitación es monocromática.

Detectores

Se pueden simular completamente varios sensores (Si-PIN, SDD, CdTe, Si (Li) y Ge) y ventanas. El programa tiene una disposición para que los usuarios ingresen todos los parámetros necesarios (como espesor, área, capa muerta, etc.) asociados con estos detectores y sus ventanas. El procesamiento espectral de CdTe incluye algunos cambios significativos en el procedimiento de procesamiento. Para obtener más información sobre el análisis de detectores de CdTe, consulte esta página.

Amptek suministra todos los parámetros de su gama de detectores XR100, incluidos XR100-SDD, XR100CR para SiPIN y XR100-CdTe. Si se utiliza un detector de otro proveedor, el cliente debe encontrar los parámetros críticos.

Geometría

Se puede especificar la geometría completa del sistema, incluyendo la frecuencia de muestreo y los ángulos de despegue, las distancias fuente-óptica y/o fuente-muestra, las distancias muestra-detector y los factores ambientales. Amptek suministra todos los parámetros de su panel de montaje MP1, para trabajar con Mini-X y XR100/X-123.

 

Figura 5. Si está utilizando el montaje de placa MP1, consulte este diagrama y la tabla a continuación. La distancia desde el borde de la placa de muestra debe ser de 0,375 pulgadas (1 cm) para estar en la intersección del detector y el tubo de rayos X. Todas las dimensiones se dan en centímetros (cm).

Parámetro RFA-FP - Significado

Ángulo de incidencia - 67,5°

Ángulo de despegue - 67,5°

Ángulo Alfa - 0°

Ángulo de dispersión - 135°

Tubo para tomar la muestra - 33,9 mm

Ejemplo de detector: 15,9 mm

Tabla 2. Si está utilizando el montaje de placa MP1 con el software RFA-FP, ingrese estos valores en el cuadro de diálogo Configuración de geometría.

Elementos, líneas y correcciones entre elementos

Incluye correcciones de absorción completa y películas gruesas y delgadas de fluorescencia secundaria. Se consideran todas las direcciones posibles para la excitación y la fluorescencia. Se puede realizar un análisis para todos los elementos desde H hasta Fm utilizando líneas K, L y M en el rango de energía de 0,1 keV a 60 keV.

Procesamiento del espectro

Espectro de calibración

Utilizando picos conocidos en el espectro, el software calcula la ganancia efectiva (ev/canal) y la compensación (desplazamiento a cero) para el espectrómetro. Estos factores se aplican al espectro posterior antes de cualquier otro procesamiento del espectro. La calibración se puede especificar en el software RFA-FP o en el software ADMCA. RFA-FP puede importar automáticamente las calibraciones ADMCA.

Eliminación de fondo y sustracción de vacío

El módulo de eliminación de fondo utiliza un filtrado iterativo para resaltar los picos y dejar fondos espectrales uniformemente diferentes. Sobre este fondo, se elimina del espectro original y quedan los picos.

Un módulo de sustracción vacío se utiliza para eliminar un pico debido a interferencias ambientales o contaminación. Estos picos no se deben al material presente en la muestra, sino también al espectrómetro, como Ar en el aire o en filtros de Al o Pb en la protección del usuario. Este módulo sustrae el espectro adquirido del material de referencia «blanco», es decir, sin elementos para analizar.

 

Figura 6. Espectro de fondo original antes de la eliminación.

Figura 7. Procesamiento del espectro y del fondo. La curva azul es para eliminar el fondo.

Eliminación de Escape Rush y Peak Sum

Elimina, a elección del usuario, tanto el detector de escape como la suma (acumulación) de picos. Moudle Escape Peak utiliza funciones internas para estimar la proporción de eventos de rayos X (sobre el borde K) que generarán rayos X K que pueden salir por el lado frontal o posterior del detector. Incluye parámetros para Si y CdTe.

Figura 8. El gráfico muestra el espectro de salida de un tubo de rayos X de tungsteno (W) tomado de un detector de CdTe después del procesamiento para eliminar los eventos de escape. La línea gris muestra el espectro original. El trazo verde ilustra la salida de los eventos en el espectro original. Se restan de este espectro original y luego se calcula la energía correcta (sumando las energías que se ejecutaron). La línea roja muestra los eventos de escape fijos, que luego se suman con el trazo gris. Un trazo negro oscuro muestra el resultado final del procesamiento con los eventos en su orden correcto.

Anti-aliasing

Se puede aplicar la cantidad especificada de suavizados gaussianos de 1:02:01 al espectro.

Desconvoluciones: intensidad de minería

Este módulo trabaja sobre el espectro procesado para extraer la intensidad neta de pico para los elementos seleccionados. Incluye varias opciones. En primer lugar, las áreas de pico se calculan utilizando uno de tres métodos: (1) simplemente integrando el pico a través de un área fija de interés, (2) ajustando una gaussiana a los vértices utilizando una base de datos conocida de relaciones de líneas y energía de pico, etc. y (3) deconvolución de referencia, que utiliza perfiles almacenados para cada elemento para hacer coincidir los picos. En segundo lugar, se puede realizar una variedad de ajustes utilizando un enfoque lineal o no lineal. Cómo utilizar el método de mínimos cuadrados. En un montaje lineal, las relaciones de pico, las energías y los anchos son fijos. Este método suele ser muy rápido. En una aproximación no lineal, estos parámetros pueden variar bajo ciertas restricciones. Este método es mucho más intensivo computacionalmente.

Todas las intensidades y longitudes de línea requeridas se calculan automáticamente a partir de la línea de analito especificada. La configuración del pico gaussiano se puede realizar con un enfoque de mínimos cuadrados lineal o no lineal. Este último le permite limitar los cambios en la posición de los picos, dentro de la serie, la relación de la línea y el ancho de los picos desde su punto de inicio nominal.

Además de calcular intensidades elementales, el programa calcula automáticamente la incertidumbre estimada y los valores de fondo, lo que permite realizar cálculos de incertidumbre y límite mínimo de detección (MDL) durante el análisis de FP.

 

Identificación automática de picos y elementos

Hay dos opciones:

Con la aplicación ADMCA de Amptek, el usuario puede marcar automáticamente los picos (transformaciones) para su análisis. Si el elemento de la biblioteca correspondiente se carga en ADMCA, el software vinculará los picos de elementos visibles. Los elementos correspondientes se pueden importar automáticamente al elemento de la tabla RFA-FP.

Utilizando la interfaz XRD-FP con Spectrum-X, el programa analiza el espectro y asigna los elementos y líneas más probables, cada uno de los cuales está determinado por el pico, y recopila una lista completa de posibles elementos en el espectro.

Cuarta edición de la MLS

La calibración mediante métodos de parámetros fundamentales se realiza utilizando varias rutas estándar y varios modelos de regresión adicionales para refinar los coeficientes de calibración de FP.

Ventana de espectro

Además de ADMCA, el módulo Spectra-X muestra los espectros recibidos o procesados. Puede comparar hasta 8 espectros. Hay marcadores KLM para identificar picos y otras herramientas disponibles para agregar texto y líneas a la pantalla.

Figura 11. La pantalla Spectra-X que muestra los marcadores de elementos.

Descripción extendida

En el análisis RFA, si no se utiliza un método de parámetros principales (FP), solo hay dos pasos. El primer paso consiste en calibrar la función de respuesta para cada elemento a partir de uno o más estándares (el llamado paso de «Calibración»). El segundo paso consiste en preparar un análisis de muestras de un material determinado, utilizando coeficientes de calibración previamente almacenados y algoritmos de FP dada la definición de la muestra (es decir, el número de capas y qué elementos se encuentran en qué capas).

El programa soportará un análisis de masa y espesor de una sola capa o composición de hasta 40 elementos, calculados por elementos y/o compuestos. Se permiten hasta 4 o más excitaciones de «condición» en el análisis. Cada condición describe un análisis separado y se puede definir libremente con cualquier combinación de condiciones experimentales, como kV, tubo de ánodo, filtro, filtro detector, protección ambiental (aire, vacío, He) y adquisición de tiempo. Esto permite al analista evaluar algunos elementos con una condición y otros de formas completamente diferentes, como que cada análisis se puede optimizar para un elemento específico o grupo de elementos. Además, los pasos de procesamiento de los espectros se pueden definir libremente y se pueden configurar todas las partes de la configuración del código de estado.

El software de análisis FP admite uno o más esquemas de calibración estándar, o un análisis completamente libre de personalización si se conocen los parámetros geométricos, ambientales, del tubo y del detector. Los estándares de calibración se deben transmitir de uno en uno y la combinación de la información de calibración estándar se procesa internamente. Después de cada paso de calibración, se devuelve un conjunto de coeficientes de calibración e información asociada para cada uno de los elementos definidos, que se puede utilizar inmediatamente si solo se aplica un estándar. Si se utilizan varios estándares de calibración, todos los coeficientes se combinarán en un solo conjunto, y luego este último conjunto estará disponible para el análisis cuantitativo posterior.

El espesor de la capa debe establecerse para el análisis sin etalón. Los resultados se pueden normalizar a cualquier valor y deben normalizarse para el análisis sin referencia o cuando se calcula el espesor de la capa. Los elementos (o compuestos) se pueden calcular, fijar o determinar por diferencia. Los elementos se pueden determinar por estequiometría a partir de la fórmula del compuesto. Los resultados de la composición se pueden calcular en unidades de W% o por minuto y, para películas delgadas, se utilizan divisiones como ug/cm2 y mg/cm2 para el espesor de masa. Este último se puede convertir a espesor (micras, micropulgadas, nm, etc.) si se conoce la densidad. Las densidades se pueden introducir o calcular adicionalmente de forma teórica.

Todos los cálculos de FP relevantes se producen tanto en el proceso de calibración como cuantificados mediante cálculos basados ​​en la ecuación de Sherman. El espectro de tubo requerido para los cálculos de fluorescencia directa puede ser proporcionado por el usuario o calculado a partir de modelos integrados (Ebel, Pella et al.). Estos espectros de tubo se pueden colapsar con funciones de transferencia experimentales para obtener el espectro esperado de tubos que pasan a través de una fibra óptica como un haz policapilar. La presencia de trayectorias de aire también se calculará a partir de los parámetros de entrada de geometría para el detector de fuente y trayectoria. También se pueden insertar filtros de un solo elemento entre el tubo y la muestra o entre la muestra y el detector, y el software se puede colocar simultáneamente.

Los parámetros del detector (ventana, espesor, área, etc.) también se utilizarán para calcular varios efectos de absorción y eficiencias cuando los rayos X pasan a través de la ventana y se almacenan en el material del detector. Esto solo es estrictamente necesario cuando se realiza un análisis sin escala, pero el cálculo siempre se realiza de esta manera para lograr coherencia y facilitar la comparación de los coeficientes de calibración entre elementos. Si la teoría fuera perfecta, todos los coeficientes de calibración tendrían el mismo valor. En la práctica, las diferencias deberían ser relativamente pequeñas, especialmente en comparación con coeficientes que no compensan por completo la eficiencia del detector. Por lo general, cuando se calibran elementos que usan la misma serie de líneas (como K), el coeficiente de variación es pequeño (<30 %), pero a menudo es mayor cuando se calibra a partir de líneas mixtas (como K y L), porque es difícil hacer cálculos absolutos que incluyan información de series de líneas (como la fluorescencia de salida).

No es necesario recolectar un elemento puro para analizar los espectros de AF, ya que no se necesita una relación directa para la intensidad elemental. El cálculo se realiza de tal manera que sea más fácil realizar un análisis que no sea de referencia. Por supuesto, es posible utilizar estándares de elementos puros si se desea, y la calibración completa de FP se puede realizar de esta manera sin utilizar ningún estándar de «tipo». Esto es útil si el analista no tiene el tipo de estándares disponible.

En los cálculos de FP se tienen en cuenta tanto los efectos directos como los secundarios de la fluorescencia. En la base de datos de FP se incluyen todos los parámetros necesarios para calcular o recuperar coeficientes de absorción, rendimientos de fluorescencia, factores de salto, transiciones de Coster-Kronig, líneas de energía, relaciones de líneas, probabilidades de transición, etc.

El programa consta de una ventana principal que ofrece una interfaz al usuario. Se ejecuta en PC estándar (Windows XP y superior) con al menos 256 MB de RAM. El software RFA-FP es totalmente compatible e integrado con el software de visualización y adquisición ADMCA de Amptek. También puede controlar directamente todos los componentes electrónicos de Amptek para proporcionar un funcionamiento automático, repetido y continuo.

El sistema completo incluye XRF

• Espectrómetro X-123
• Detector Mini-X con control USB
• Software para análisis XRD
• Placa de montaje MP1